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日立分析儀器推出FT210型X射線熒光測厚儀發(fā)表時間:2024-01-19 10:36 日立分析儀器推出的FT210型X射線熒光測厚儀是一款新型的鍍層測厚儀,旨在增強大批量測試需求和提高生產(chǎn)率。該儀器包括用于常規(guī)測量普通電鍍的正比計數(shù)探測器,并集成了先進且易于使用的功能。
FT210還配備了新型的超大的樣品視圖、廣視角相機、自動對焦和自動接近功能,以及名為“Find My Part? (查找我的樣品)”的智能識別功能,該功能可自動識別待測的特定測點并選擇正確的分析方法。這些功能使得FT210能夠快速、準(zhǔn)確地完成測量和處理數(shù)據(jù)的工作,從而節(jié)省了操作員的時間,提高了生產(chǎn)效率。 此外,日立分析儀器還推出了用于增強FT200系列智能鍍層分析功能的最新版FT Connect軟件。新版本的FT Connect軟件擴展了FT230的RoHS篩選功能,使得FT230現(xiàn)在可用于檢查更多材料是否符合最新的有害物質(zhì)指令。此外,新版本的FT Connect軟件還增強了報告、創(chuàng)建校準(zhǔn)曲線和數(shù)據(jù)處理的可用性功能。 總的來說,日立分析儀器推出的FT210型X射線熒光測厚儀和最新版的FT Connect軟件是一套完整且先進的解決方案,旨在提高鍍層測量的效率和準(zhǔn)確性,為操作員節(jié)省時間,幫助他們專注于更有價值的任務(wù)。 |