介電損耗角正切tanδ是用數值表示的電絕緣材料狀態的指標。當向絕緣體施加交流電壓時，會發生介電損耗，其中一部分電能以熱能的形式損失掉。 tan δ 是這種介電損耗的程度。 tan δ 取決于施加的交流頻率和溫度/濕度。
開關電壓應用于逆變器、變頻器和電機的電絕緣材料。因此，與開關頻率相應的 tan δ 測試是必不可少的。此外, 電動汽車的電機和功率模塊預設在低溫到超過 200°C的環境中使用，因此測試電絕緣材料的 tanδ 溫度特性非常重要。

課題

對于電絕緣材料等高阻抗元件的測量，使用具有主電極和對電極結構的電極測量tan δ。這種測試電極帶有保護電極，以減少雜散電容和感應噪聲的影響，并具有屏蔽機制。對于 JIS C 2138 和 IEC 60250 等常見電絕緣材料的一般介電損耗角正切和絕緣電阻測量，測試環境溫度為 20°C 或 23°C，因此用這樣的組合進行測試是可行的。但是，因ASTM D150等要測試溫度依賴性，這種測試電極可能無法承受測試溫度。

解決方案

KEYCOM (https://www.keycom.co.jp/ndex-j.html) 用于相對介電常數/介電損耗角正切測量的電容法電極，實現了低溫到高溫的 tan δ 測量。測試樣品通過與電極組合，可對應平板、液體、凝膠和薄膜（片材）。（參考圖3）使用恒溫槽或熱沖擊試驗機，可以測試相對介電常數和介電損耗角正切的溫度特性（參考圖4）。
此外，KEYCOM可以提供自動測量的測量系統。
支持的標準包括ASTM D-150、JIS C2101、JIS C2141、JIS C 6481、JIS K6911、JIS C 2111 28.1.2（方法B），通過指定標準也可以支持其他標準。